MEGALEDTESTER高速LED檢測系統

　　MEGALEDTESTER測試儀已完全重新設計，為符合測量精確及LED生產高速測試需求，整合了先鋒科技研發(fā)的MegaLED-SGMCCD攝譜儀及高速的MegaLED-3000系列LED電性分析儀,MEGALEDTESTER可用來測試所有LED相關之光學與電性參數。

　　在生產過程中快速測量LED參數對于儀器是項特別的挑戰(zhàn)，因為符合CIE的測量標準時，出光效率非常低；在這同時，確保生產設備可以有效益生產的運轉，高速的測量時間是必要的，多項的LED的光學與電性參數測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用范圍也必須由小的SMT設計以至于高功率的LED。

　　◆Spectralradiantflux(W/nm):絕對光譜

　　◆Peakwavelength(λp):最高波長

　　◆Dominantwavelength(Hue；λd)：色域波長

　　◆Centerwavelength(λc):中心波長

　　◆ExcitationPurity(Chroma；%):色純度

　　◆ChromaticityCoordinates(x,y@1931)：色坐標

　　◆C.C.T.(correlatedcolortemperature):色溫

　　◆C.R.I.(colorrenderingindex):演色指數

　　MegaLED-SGM100確保了主要的測量參數最高精確度及再現性，如LED主波長及的色坐標等，在傳統高速的電性測量速度下，對MegaLED-SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶確實可以減少電子測量的時間，尤其是搭配LED分選機高速的測試需求。

　　新的可調式使用者接口組態(tài)與擴充的數組功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特征系依據統計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與LampLED分選設備，都搭配了專用探測模塊。

　　無光纖設計無損失直接光訊號傳輸方式

　　l完整的測量配置（光強，光通量，色彩值，輻射模式的測量）

　　快速測量周期l<30mS

　　完全兼容CIE127-2007測量標準l，NIST標準溯源

　　經濟完備的CCD分光技術l以及智能化色彩分析軟件

　　可以連接系統各選項的光強與光通量探頭l

　　優(yōu)化的質量保證l

　　MegaLED軟件，DLLs的驅動。l

　　光強n[cd]

　　光通量[LM]n

　　主波長，中心波長，波峰測量n

　　色坐標，色溫，演色指數n

　　空間輻射模式n

　　SGM100光學檢測系統是采用完備的CCD與光柵分光技術來測量LED的發(fā)光特性與參數。各種光學適配器都可以根據測量需要，可以搭配到SGM100的輸入端，定義成相應的光強或光通量等光學單位。

　　除了具吸引力的價格外，還有優(yōu)秀的儀器測量精確度。SGM100是按照精密儀器標準制造的，SGM100光柵攝譜儀及其配件在出廠前都按照NIST標準校正過，USB接口隨插即用。

　　MEGALED-SGM100LED光學檢測系統升級與服務

　　該產品的主要功能就是對LED光學特性及參數進行測量。先鋒科技憑借多年服務業(yè)界的經驗以及強大的技術力量,對您未來成長的需求提供配套的升級服務。

　　實用簡單MegaLED光譜色度分析軟件：

　　軟件可以支持您使用基本的LED測量，函數分析，和相應檔處理；并支持各類多功能電表支持你所需要的LED電性分析,稍微懂得計算機的產線作業(yè)人員就能操作，保證你的生產質量。